一．赛道名称：集成电路芯片测试赛道

二．赛道概述

集成电路芯片测试赛道主要考察参赛人员对半导体芯片测试方案设计、测试工装制作、测试程序开发及调试的能力。要求参赛选手在规定时间内使用大赛组委会提供的集成电路测试平台、待测芯片及测试要求完成测试方案设计、测试工装制作、测试程序开发及调试。

三．参赛对象

 1.企业组

(1)在中国境内注册成立一年以上，符合《中小企业划型标准规定》（工信部联企业〔2011〕300号）的中小微企业；

(2)每个企业报名队伍数量限1支；

(3)每个参赛队由3名选手组成，其中设队长1名，3名选手须为同企业在职员工，性别不限。

2.创客组

(1)全日制普通高等学校高职、本科及以上在籍学生；

(2)每个学校或学院报名队伍数量不限；

(3)每个参赛队由3名选手组成，其中设队长1名，3名选手须为同校在籍学生，性别和年级不限；

(4)每个参赛队须配有1名指导教师，指导教师应为学生所在学校的专职教师担任。

(5)参赛项目的创意、产品、技术及相关专利归属参赛团队，与其他单位或个人无知识产权纠纷。

四．赛道内容

1.自行设计微型控制器（MCU）芯片整体测试方案，包括设计、制作测试电路，并基于给定的自动化测试设备（ATE）硬件资源及开发环境，按照测试项要求编写测试程序完成对微型控制器芯片的参数及功能进行测试，输出结果并提交测试报告。

2.所有参数及功能测试条件参考给定的测试规格书。

3.所有测试项不得使用成品仪表仪器代替ATE完成测试。

4.所有测试项全程自动完成，中途不得人工介入设置参数和更改测试程序。

五．作品提交要求

1.提交测试方案，包括对芯片功能及外设资源分析、电路设计、ATE资源分配、测试参数项、测试条件等。

2.提交测试结果，使用ATE硬件资源和测试开发环境，建立待测芯片、ATE硬件资源及接口程序映射关系，使用C/C++语言编写测试程序并调试输出测试结果。

3.提交测试电路，能与ATE正确连接并完成测试，预留关键信号测试点供成品仪表仪器手动测试验证。

六．评分标准

1.评分原则：本赛道评分制定严格遵守公平、公正的原则，始终贯彻落实大赛一贯坚持的公平、公正和公开原则。

2.评分方法：本赛道总成绩满分100分，只对参赛队团体评分，不计个人成绩。

3.评分细则：最终成绩构成由测试报告（15%）、基本要求（35%）、发挥部分（45%）及职业素养（5%）四部分成绩求和，并减去扣分项得到。

七．注意事项

1.大赛组委会对参赛作品的提交材料拥有使用权和展示权。

2.大赛将在全国总决赛期间召开产业与资本对接会，帮助优秀项目对接后续的技术、资金、行业资源及落地等支持。

八．法律说明

1.参赛队伍须保证作品的原创性、合法性，若出现剽窃其他个人或团体所开发应用的情况，将取消参赛资格，所引起的一切法律责任，均由作品开发者自然人或机构团体承担。

2.主办方将不对大赛涉及的参赛作品及参赛团队行为负责，对任何违反法律法规或有争议的作品不承担任何责任。

3.参赛队伍如有下述任何一种情况，主办方有权取消其参加比赛的资格，包含但不限于：
（1）提供任何虚假信息；
（2）涉嫌作弊行为、侵犯他人知识产权；

（3）违反相关法律法规等。

4.本次大赛版权归属以本条为准。版权说明：参赛作品版权属于参赛者，但参赛者同意授权主办方及承办方及大赛组委会认可的第三方服务机构在全球范围内、不可撤销的、免费的、可修改的在其网站以及对外宣传中无偿使用您的作品的权利，包括对参赛作品进行媒体发布和报道。

5.在法律许可范围内，主办方保留变更、调整、终止本大赛之权利并有权调整或变更本大赛活动规则并于相关渠道公告后生效。

6.主办方比赛公布的所有奖金均为税前奖金。参赛者需同意，奖金以人民币方式由北京赛迪网信息技术有限公司支付。个人获奖者需同意奖金由支付方扣除相关税金。

报名参赛即表明同意本次大赛的所有规则。更多协议规则详情，请前往大赛官网报名页面了解。